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專用儀器儀表
DP-SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀

顯微熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
product
產(chǎn)品分類顯微熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀 型號(hào):DP-SGW X-4
特點(diǎn):
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻法(熱臺(tái)片法)測(cè)定。
主要參數(shù):
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 320℃ 時(shí))
X-4 | X-4A | X-4B | |
溫度顯示zui小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點(diǎn)觀察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學(xué)放大倍數(shù) | 40× | 40× | 40×-100×連續(xù)變倍 |
顯微熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀 型號(hào):DP-SGW X-4A
特點(diǎn):
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻法(熱臺(tái)片法)測(cè)定。
主要參數(shù):
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 320℃ 時(shí))
X-4 | X-4A | X-4B | |
溫度顯示zui小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點(diǎn)觀察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學(xué)放大倍數(shù) | 40× | 40× | 40×-100×連續(xù)變倍 |
型號(hào):DP-SGW X-4B
特點(diǎn):
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
主要參數(shù):
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 320℃ 時(shí))
溫度顯示zui小值:0.1℃
X-4 | X-4A | X-4B | |
溫度顯示zui小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔點(diǎn)觀察方式 | 單目顯微鏡 | 單目顯微鏡 | 雙目體視顯微鏡 |
光學(xué)放大倍數(shù) | 40× | 40× | 40×-100×連續(xù)變倍 |
顯微熱分析儀 顯微熱檢測(cè)儀 型號(hào):DP-WRX-1S
性能標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至300℃
溫度顯示zui小示值:0.1℃
線性升溫速率:0.2,0.5,1.0,1.5,2.0,3.0,4.0,5.0(℃min)
標(biāo)準(zhǔn)配置:配計(jì)算機(jī)數(shù)碼目鏡1/3"彩色CMOS
圖象分辨率:640×480
目視熔點(diǎn)儀 熔點(diǎn)儀 型號(hào):DP-WRR
特點(diǎn): 測(cè)定晶體物資的熔點(diǎn)以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)之測(cè)定。測(cè)量方法符合藥典標(biāo)準(zhǔn)??赏瑫r(shí)測(cè)三根樣品,自動(dòng)計(jì)算初、終熔平均值。采用LED作為照明光源,持久耐用,目了然. 可以測(cè)有色顏色偏深樣品。直接觀察熔化過程,是按藥典規(guī)定的熔點(diǎn)檢測(cè)方法而. | |||
主要參數(shù): 線性升溫速率:0.5, 1.0, 1.5, 3.0(℃/min) 測(cè)量溫度準(zhǔn)確率:<200℃時(shí):±0.5℃ ≥200℃時(shí):±0.8℃ | |||
注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對(duì)應(yīng)的